苏州西博三维科技有限公司
西安交通大学苏州研究院机电测控一体化实验室

XTDIC — 数字散斑应变测量分析系统

XTDIC 系统结合数字图像相关技术(DIC)与双目立体视觉技术,通过追踪物体表面的散斑图像,实现变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量,具有便携,速度快,精度高、易操作等特点。与双目体式显微镜技术结合,实现微小物体变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量。


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XTMICRO—显微应变测量分析系统

XTMICRO系统结合数字图像相关技术(DIC)与双目体式显微镜技术,通过追踪物体表面的散斑图像,实现微小物体变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量,具有便携,速度快,精度高,易操作等特点。


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